| 发明名称 |
METODO E APPARECCHIATURA PER LA MISURA DEL TEMPO DI VITA SU GIUNZIONI P_N A SEMICONDUTTORE TRAMITE EFFETTO FOTOVOLTAIICO. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IT8820006(D0) |
申请公布日期 |
1988.03.29 |
| 申请号 |
IT19880020006 |
申请日期 |
1988.03.29 |
| 申请人 |
SGS THOMSON MICROELECTRONICS S.P.A. |
发明人 |
VINCENZO RUSSO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/265;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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