| 摘要 |
<p>Un testeur de circuits électroniques selon l'invention comprend : une carte de connexion (24) pour raccordement à chacune des bornes du circuit à tester ; n cartes (16) dites broches électroniques comprenant des moyens de mise en forme de signaux dont chacune est connectée à une entrée de la carte de connexion ; un module unique de mémoire de vecteurs de test (17) contenant tous les vecteurs de test destinés au circuit et attendus de celui-ci, ces vecteurs transitant par lesdites broches électroniques ; un ordinateur central (10) pour gérer le système et assurer des liaisons externes. La gestion de la mémoire de vecteurs est assurée concuremment par une unité de gestion de mémoire (22) reliée indépendamment des autres modules du testeur à l'ordinateur central (10) et un processeur d'adresses (23) fonctionnant de façon asynchrone par rapport à l'ordinateur central.</p> |
