发明名称 | 数字图像纹理结构分析方法和装置 | ||
摘要 | 提供一种数字图像查找方法和一种数字图像纹理结构分析方法,数字图像查找方法包括使用具有作为纹理结构特征的原始图像像素值的平均值和方差的纹理结构描述符查找具有与查询图像类似的纹理结构描述符的一个图像。数字图像纹理结构分析方法包括计算匹配度量的步骤,匹配度量包括两个任意数字图像的像素值的平均值之间的绝对差值。利用数字图像纹理结构分析方法所指出的纹理结构描述符查找一个图像。该纹理结构分析方法允许更为准确地分析和比较图像纹理结构。此外,根据数字图像纹理结构分析方法,当仅相对另一个图像旋转,放大或缩小一个图像时,分析两个图像的纹理结构相似性,即,可执行准确分析。 | ||
申请公布号 | CN100334599C | 申请公布日期 | 2007.08.29 |
申请号 | CN200410047282.7 | 申请日期 | 2000.09.30 |
申请人 | 三星电子株式会社;加利福尼亚大学董事会 | 发明人 | 申铉枓;崔良林;B·S·曼朱纳斯 |
分类号 | G06T7/40(2006.01) | 主分类号 | G06T7/40(2006.01) |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 郭定辉;黄小临 |
主权项 | 1.一种数字图像纹理结构分析方法,用于通过获得两个任意图像之间的匹配度量来评价这两个任意数字图像的纹理结构的相似性,该方法包括以下步骤:计算这两个任意数字图像的原始图像像素值的平均值之间的绝对差值;使用Garbor滤波器获得关于这两个任意图像的m×n个滤波图像,每个滤波器具有m个标度之一和n个定向之一的唯一组合,其中m和n是预定的正整数,计算m×n个滤波图像的像素值的平均值之间的绝对差值和m×n个滤波图像的像素值的方差之间的绝对差值;以及计算匹配度量,所述匹配度量包括原始图像像素值的平均值之间的绝对差值和方差之间的绝对差值的和、以及m×n个滤波图像的像素值的平均值之间的绝对差值和方差之间的绝对差值的和的累加值。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |