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发明名称 METODO E DISPOSITIVO PER LA MISURA DEI CAMPI CRITICI SUPERIORI NEI MATERIALI SUPERCONDUTTORI DI SECONDA SPECIE.
摘要
申请公布号 IT8819616(D0) 申请公布日期 1988.03.02
申请号 IT19880019616 申请日期 1988.03.02
申请人 CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE 发明人 FULVIO BOLZONI
分类号 G01R;(IPC1-7):G01R/ 主分类号 G01R
代理机构 代理人
主权项
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