发明名称 | 检测存储器元件中字线漏电的装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种检测存储器元件中字线漏电的方法与装置,包括耦接存储器元件中多条第一字线至一电压源,并将多条第二字线接地,其中各条第二字线毗邻于此些第一字线。此方法包括等待一预定时间,使此些第一字线得以达到预定读取电压电平,再将此些第一字线与电压源分离,并等待一第二预定时间,使此些第一字线得以放电。此方法更包括检测对应此些第一字线的存储器元件电流,并将此电流与一预定参考电流进行比较,此预定参考电流是用来鉴别对应此些第一字线的漏电状态。 | ||
申请公布号 | CN101377960A | 申请公布日期 | 2009.03.04 |
申请号 | CN200710199369.X | 申请日期 | 2007.12.20 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 陈汉松;罗思觉;洪俊雄;郭乃萍;蔡文彬;谢明志 |
分类号 | G11C29/50(2006.01) | 主分类号 | G11C29/50(2006.01) |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 周国城 |
主权项 | 1、一种检测存储器元件中字线漏电的方法,其特征在于,该方法包括:耦接该存储器元件的一第一字线至一电压源,并耦接该存储器元件的一第二字线至一接地电平电压;等待一第一预定时间,使该第一字线得以达到一预定读取电压电平;分离该第一字线与该电压源;等待一第二预定时间,使该第一字线得以放电;检测该第一字线的一电流;以及比较该电流与一预定参考电流,其中该预定参考电流是用来鉴别对应该第一字线的一字线漏电状态。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区力行路16号 |