发明名称 光盘厚度测量仪
摘要 一种光盘厚度测量仪,包括的测量底座、测量臂和精密高度表,其特征在于:所述测量底座呈L形,光盘中心固定柱与所述测量底座水平端的端部固定连接,测量臂的一端置于所述测量底座垂直端的水平向孔中,并可前后移动调节,所述测量臂另一端与垂直向的精密高度表固定连接。本实用新型优点是:结构简单、操作非常方便,测量员只需将待测量光盘中心孔套在固定柱上,然后即可通过旋转光盘或前后移动调节所述测量臂,测量光盘的各个点位的厚度,测得的厚度读数直接显示在精密高度表的数字显示屏上,操作读数都很方便,工作效率高。本实用新型纯机械结构,成本低、维护保养简单,而且坚固耐用。
申请公布号 CN201413120Y 申请公布日期 2010.02.24
申请号 CN200920073295.X 申请日期 2009.06.02
申请人 上海新索音乐有限公司 发明人 丁强;朱磊磊
分类号 G01B7/06(2006.01)I 主分类号 G01B7/06(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 代理人 俞宗耀
主权项 1.光盘厚度测量仪,包括测量底座(3)、测量臂(5)和精密高度表(6),其特征在于:所述测量底座(3)呈L形,光盘中心孔固定柱(2)与所述测量底座(3)水平端的端部固定连接,所述测量臂(5)的一端置于所述测量底座(3)垂直端的水平向孔(4)中,并可前后移动调节,所述测量臂(5)的另一端与垂直向的精密高度表(6)固定连接。
地址 201600上海市松江区江田东路99号