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发明名称 METHOD OF DETERMINING THICKNESS OF WAVE-PROCESSED LAYER
摘要
申请公布号 SU1374165(A1) 申请公布日期 1988.02.15
申请号 SU19864135604 申请日期 1986.06.30
申请人 VNI,üPOEKTHÕö ô KOHCTPÔKTOPCKôö ôHCTôTÔT ×OPHO×O ¯EóA |BETHOö METAóóÔP×ôô 发明人 BOGDANOV NIKOLAJ A,SU;KADIK FELIKS A,SU;KLEJNMAN GENRIKH T,SU;KRAVCHENKO VLADIMIR E,SU;ULST VIKTOR G,SU
分类号 G01V9/00 主分类号 G01V9/00
代理机构 代理人
主权项
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