发明名称 Verfahren zum Bearbeiten eines Halbleitersubstrats und Halbleiterchips
摘要 Ein Verfahren zum Bearbeiten eines Halbleitersubstrats wird bereitgestellt. Das Verfahren kann beinhalten, eine Folie über einer ersten Seite eines Halbleitersubstrats auszubilden, wenigstens ein Trenngebiet in dem Halbleitersubstrat zwischen einem ersten Gebiet und einem zweiten Gebiet des Halbleitersubstrats auszubilden, das Halbleitersubstrat auf einer Brechvorrichtung anzuordnen, wobei die Brechvorrichtung eine Bruchkante aufweist und wobei das Halbleitersubstrat derart angeordnet ist, dass die Folie der Brechvorrichtung zugewandt ist, und in wenigstens einer Ausrichtungsposition mit dem wenigstens einen Trenngebiet an der Bruchkante ausgerichtet, und das Halbleitersubstrat zu zwingen, das erste Gebiet in Bezug auf das zweite Gebiet über die Bruchkante zu biegen, bis die Folie zwischen der Bruchkante und dem wenigstens einen Trenngebiet getrennt wird.
申请公布号 DE102015100827(A1) 申请公布日期 2016.07.21
申请号 DE201510100827 申请日期 2015.01.21
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Mariani, Franco;Kaspar, Korbinian
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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