发明名称 TEST SIGNAL GENERATING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS6326583(A) 申请公布日期 1988.02.04
申请号 JP19860170212 申请日期 1986.07.18
申请人 NEC CORP 发明人 TSUBOI TOSHIHIDE
分类号 H03K19/0175;G01R31/28;G01R31/3185;G01R31/319;H03K19/00 主分类号 H03K19/0175
代理机构 代理人
主权项
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