| 发明名称 | 孔口测绘及表面时间测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明包括孔口测绘系统，该系统具有一个或多个用于测量孔口直径的高分辨率超声波测绘传感器，用各传感器垂直射入的脉冲到达孔口表面并返回各传感器的传送时间和校验孔内所测参考反射时间，并用超声波脉冲在浸没液体内的已知速度，从机械地测到的参考直径来决定被测直径，对各轴向转子位置将各传感器所测直径平均以得到平均测量直径；还包括表面时间测量系统，该系统至少有一测量定向射线到达孔口表面并由此返回的所需测距时间的测距传感器。 | ||
| 申请公布号 | CN87104400A | 申请公布日期 | 1988.02.03 |
| 申请号 | CN87104400 | 申请日期 | 1987.06.25 |
| 申请人 | 西屋电气公司 | 发明人 | 劳伦斯D·诺丁汉;汤马斯E·米歇尔;詹尼弗E·米歇尔 |
| 分类号 | G07B17/00 | 主分类号 | G07B17/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 邓明 |
| 主权项 | 1、一个用于透平转子孔口(28)的孔口测绘装置，其特征在于它有： 一个按斜切波方式工作的探测传感器(72)，它产生一束检查射线(76)射入在孔口一定圆周位置的转子孔口表面(28)； 一个垂直测距传感器(70)，它产生一束超声波测距射线脉冲(74)与探测发射器(72)的射线成一已知角q，并在圆周位置上垂直射至孔口表面(28)，同时接受从孔口表面(28)反射回来的测距射线脉冲； 表面时间计算装置(38)，它测量测距射线脉冲(74)的传送及反射之间的测距射线传送时间Tr，依据公式Ti=Tic+(Tr-Trc)/cosq，计算出表面时间Ti，式中Tic为校验检查时间，而Trc为在一个校验孔口内产生的校验测距时间，该孔口对于不同的圆周位置产生不同的表面时间。 | ||
| 地址 | 美国宾夕法尼亚州 | ||