METHOD OF QUANTITATIVE ANALYSIS OF IMPURITIES ON METALS AND SEMICONDUCTORS,申请号SU19864041003-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF QUANTITATIVE ANALYSIS OF IMPURITIES ON METALS AND SEMICONDUCTORS
摘要
申请公布号	SU1368747(A1)	申请公布日期	1988.01.23
申请号	SU19864041003	申请日期	1986.01.06
申请人	VNI TSENTR PO IZUCHENIYU SVOJSTV POVERKHNOSTI VAKUUMA	发明人	ALEKSEEV ANDREJ P,SU;ZAPOROZHCHENKO VLADIMIR I,SU;KOLOMEJTSEV MIKHAIL I,SU
分类号	G01N23/227	主分类号	G01N23/227
代理机构		代理人
主权项
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