发明名称 |
Metallization for integrated-circuit arrangements. |
摘要 |
Die vorgeschlagene, für Leitbahnsysteme von integrierten Schaltungsanordnungen genutzte Sandwichmetallisierung mit einer Schichtenfolge aus Platinsilizid (2) und mehreren durch Alumninium- oder Aluminium-Silizium-Schichten mit und ohne Legierungszusätzen (4, 6) voneinander getrennten Titan-, Titanwolfram- oder Titannitridschichten (3, 5, 7) weist gegenüber bekannten Metallisierungen Vorteile hinsichtlich Strombelastbarkeit, Hillockbildung und Leitbahndefekten auf und bietet Möglichkeiten der Selektivätzung, geneigter Ätzflanken und erhebliche Platzeinsparungen bei Mehrlagenmetallisierungen. |
申请公布号 |
EP0253299(A1) |
申请公布日期 |
1988.01.20 |
申请号 |
EP19870109880 |
申请日期 |
1987.07.08 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
EGGERS, HARALD, DIPL.-ING.;ASAM, WILHELM, DIPL.-PHYS.;PREIS, WALTER, DIPL.-ING.;SCHLOSS, DIETRICH, ING.;ECKSTEIN, ELKE |
分类号 |
H01L23/52;H01L21/3205;H01L23/532;(IPC1-7):H01L23/48 |
主分类号 |
H01L23/52 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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