发明名称 |
OPTO-ELECTRONIC PROCESS FOR INSPECTING SURFACES. |
摘要 |
Le procédé permet d'inspecter des surfaces étendues solides ou liquides pour détecter la présence de défauts microscopiques avec une grande vitesse. On utilise pour cela plusieurs canaux ou des voies multicanaux (optique de stries) en traitant l'information sur les défauts dans ou sur la surface à inspecter par des filtres pouvant avoir plusieurs étages. On obtient ainsi une sensibilité et une vitesse de mesure inconnues jusqu'ici. |
申请公布号 |
EP0250490(A1) |
申请公布日期 |
1988.01.07 |
申请号 |
EP19870900036 |
申请日期 |
1986.12.15 |
申请人 |
SIN/SCHWEIZ. INSTITUT FUER NUKLEARFORSCHUNG |
发明人 |
SCHOEPS, WILFRIED |
分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;(IPC1-7):G01B11/30 |
主分类号 |
G01B11/30 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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