发明名称 VERFAHREN ZUR FESTSTELLUNG DER KONTAKTIERQUALITAET AN HALBLEITERBAUELEMENTEN
摘要
申请公布号 DD253117(A1) 申请公布日期 1988.01.06
申请号 DD19860294779 申请日期 1986.09.29
申请人 VEB MIKROELEKTRONIK "ANNA SEGHERS" NEUHAUS,DD 发明人 LINDNER,ROBERT,DD;BRANDT,LOTHAR,DD;BOEHM-BEYER,MONIKA,DD;WEIGELT,HEIDRUN,DD
分类号 H01L21/52;(IPC1-7):H01L21/52 主分类号 H01L21/52
代理机构 代理人
主权项
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