发明名称 Device for testing electronical components, especially ICs.
摘要 <p>Bei einem Gerät (4) zum Prüfen von elektronischen Bauelementen, an dem eine Testvorrichtung (3) montierbar ist, wobei zur elektrischen Verbindung der vorhandenen elektrischen Leiter ein Verbindungsstecker und zur mechanischen Verbindung Kupplungen (64) mit jeweils einem starren und einem beweglichen Kupplungsglied (66, 67) vorgesehen sind, und wobei die Kupplungen (64) die Testvorrichtung (3) nach dem Prinzip der schiefen Ebene am Gerät (4) in einer zentrierten Position festlegen, soll eine stabile Ankopplung der Testvorrichtung (3) am Gerät (4) möglich sein. Dies wird dadurch erreicht, daß wenigstens drei auf der zugehörigen Befestigungsseite (63) sternförmig verteilte Kupplungen (64) angeordnet sind.</p>
申请公布号 EP0245829(A2) 申请公布日期 1987.11.19
申请号 EP19870106829 申请日期 1987.05.12
申请人 WILLBERG, HANS-HEINRICH 发明人 WILLBERG, HANS-HEINRICH
分类号 B23Q1/00 主分类号 B23Q1/00
代理机构 代理人
主权项
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