发明名称 |
可同时探测Ca.Fe.Si.Al.的特征谱线的薄窗多丝正比计数器 |
摘要 |
一种属于核物理学中测量低能X、γ射线的探测器。由一盒体和盒盖组成的空腔内有若干根阳极丝等距离地分布在腔内上、下对称的中间位置;盒盖上有一入射窗口和一背窗,用镀铝聚酯薄膜制成,膜下衬一网栅或多孔板,盒体开有两进、出气口。该计数器对2Kev以下的软X射线探测效率高,允许在抽真空的条件下使用,能量分辨率达到18%(对5.9Kev的X射线),可用于测量水泥中Ca、Fe、Si、Al的含量。 |
申请公布号 |
CN86209041U |
申请公布日期 |
1987.10.31 |
申请号 |
CN86209041 |
申请日期 |
1986.11.14 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
谢程远 |
分类号 |
G01N23/223 |
主分类号 |
G01N23/223 |
代理机构 |
清华大学专利事务所 |
代理人 |
黄冠颖;张志东 |
主权项 |
1、一种探测低能x、r射线的正比计数器,在空腔的壁上开有入射窗,空腔内有阳极丝,其特征在于:由一盒体、盒盖组成的扁园柱形或正方形的空腔里有若干根阳极丝,等距地分布在腔内上、下对称的中间位置,入射窗用镀铝薄膜,窗膜下有一保护装置在盒底部开有一后窗,后窗也用镀铝薄膜。盒体开有两个进、出气孔。 |
地址 |
北京市海淀区清华园 |