发明名称 宽量程半导体真空计
摘要 本实用新型公开了一种根据热传导原理和半导体PN结的感温特性而设计的宽量程半导体真空计。它能够实现粗、低、高真空的连续测量,解决了常规的真空测量中的衔接误差问题,减少了测量设备,使用方便。由于在规管中设置了一个补偿二极管,所以测量中不受环境温度变化的影响,测量精度高。在10-10<SUP>-1</SUP>帕压强范围内,测量信号达300毫伏以上,从而大大简化了测量线路。
申请公布号 CN87200798U 申请公布日期 1987.10.14
申请号 CN87200798 申请日期 1987.02.05
申请人 合肥工业大学 发明人 李自鹏;钱三德;王先路;陈立仁;黄锡森
分类号 G01L21/10;G01L21/00 主分类号 G01L21/10
代理机构 机械工业部专利代理服务处 代理人 孙文彩
主权项 1、一种由半导体真空规管(G)和控制电路(L)构成的宽量程半导体真空计,其特征是:(1)、规管(G)中封装有由PN结(2)电阻网络(3)及欧姆结(4)构成的硅单晶芯片(1)和PN结补偿二极管(7);(2)、控制电路(L)由测量桥路(L1)、信号放大电路(L2)和信号补偿电路(L3)组成,PN结补偿二极管(7)为测量桥路(L1)的一只桥臂。
地址 安徽省合肥市屯溪路