发明名称 Thermal profile system
摘要 Apparatus and method for implementing a characterized thermal profile upon a temperature/time dependent process on any material or materials susceptible to such thermal processing in accordance with a closed loop environmental feedback system and a corresponding predetermined characterized thermal profile.
申请公布号 US4690569(A) 申请公布日期 1987.09.01
申请号 US19860865761 申请日期 1986.05.22
申请人 QUALTRONICS CORPORATION 发明人 VEITCH, RANDALL C.
分类号 G01N25/00;H05K3/34;(IPC1-7):G01N25/00 主分类号 G01N25/00
代理机构 代理人
主权项
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