Method and device for the measurement and analysis of the physical parameters of a layered material using thermal radiometry.

摘要

L'invention concerne un procédé et un dispositif d'analyse et de mesure des paramètres physiques d'un matériau (1) en couches (10,11), paramètres tels que l'absorptivité B, la diffusivité A de la couche superficielle, et la résistance thermique R de l'interface entre les deux couches par radiométrie. L'échantillon est excité au moyen d'un flux d'énergie thermique, modulé en amplitude à une fréquence haute Fh et à une fréquence basse Fb. Les paramètres sont calculés à partir des mesures de phase et d'amplitude du signal thermique. Application au contrôle non destructif de produits industriels.