发明名称 PROCEDE DE MESURE D'IMPEDANCES EN PARTICULIER DE CAPACITES FAIBLES
摘要 <P>Pour améliorer la précision de la mesure de capacités faibles, le procédé de l'invention utilise un circuit électronique de mesure 110-140 qui comprend trois impédances de référence CR1, CR2, CR3 qui sont connectées alternativement dans le circuit. L'utilisation d'une troisième impédance de référence permet d'éliminer l'effet d'une non linéarité du système de mesure et de réduire considérablement l'erreur de mesure résultante. <BR/> Application aux capteurs de grandeurs physiques. <BR/> (CF DESSIN DANS BOPI)<BR/> <BR/></P>
申请公布号 FR2594231(A1) 申请公布日期 1987.08.14
申请号 FR19870001851 申请日期 1987.02.13
申请人 VAISALA OY 发明人 MATTI LYYRA
分类号 G01R35/00;G01D5/24;G01R27/02;G01R27/26;G01R31/00;(IPC1-7):G01R27/02;G01R1/067 主分类号 G01R35/00
代理机构 代理人
主权项
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