发明名称 ERROR DETECTION/CORRECTION RANDOM ACCESS SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 JPS62175846(A) 申请公布日期 1987.08.01
申请号 JP19860265409 申请日期 1986.11.07
申请人 TEXAS INSTR INC <TI> 发明人 KEBIN TOREINOO
分类号 G06F12/16;G06F11/10 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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