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发明名称 HIGH-LEVEL TERMINAL ELECTRONICS CONNECTION FOR TESTING OF INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 CS251493(B1) 申请公布日期 1987.07.16
申请号 CS19850003593 申请日期 1985.05.20
申请人 BOLEDOVIC,MARIAN,CS 发明人 BOLEDOVIC,MARIAN,CS
分类号 G01R31/00;G01R35/00;(IPC1-7):G01R35/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
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