发明名称 VERFAHREN ZUR ERKENNUNG VON INHOMOGENITAETEN IN HALBLEITERSTRUKTUREN
摘要
申请公布号 DD247325(A1) 申请公布日期 1987.07.01
申请号 DD19860287563 申请日期 1986.03.05
申请人 VEB MIKROELEKTRONIK "KARL LIEBKNECHT",DD 发明人 EHRHARDT,LUTZ,DD;DOSS,RAINER,DD;GERL,HELMUT,DD
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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