| 发明名称 |
METHOD OF TESTING INTEGRATED MODULE AND CIRCUIT DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS62134576(A) |
申请公布日期 |
1987.06.17 |
| 申请号 |
JP19860287565 |
申请日期 |
1986.12.01 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
BERUNHARUTO UNGAA;RAINAA RAUSHIERUTO |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/30;G01R31/3161;G01R31/319;G11C29/00;G11C29/56 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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