| 摘要 |
<p>Des signaux de mesure d'une fréquence changeant avec un laps de temps sont guidés vers un port de test (35c) d'un séparateur de signaux de réflexion (35) via un port d'entrée (35a). Un élément de court-circuit, un élément ouvert, ou un chemin de transmission (45) est sélectivement connecté au port de test (35c). Le séparateur de signaux de réflexion (35) possède en outre un port de sortie (35b), et les signaux de réflexion envoyés du port de test (35c) et les signaux de transmission via le chemin de transmission (45) sont mémorisés dans une première, deuxième et troisième mémoires (39, 40, 41) via des récepteurs hétérodynes (36, 37) ayant une première et une seconde fonctions de correction de niveau. Lorsque l'objet à mesurer est connecté au port de test (35c), les signaux de sortie du premier et second récepteurs hétérodynes (36, 37) sont étalonnés par un circuit arithmétique (42) travaillant en se basant sur le contenu de la première, seconde et troisième mémoires (39, 40, 41), puis sont affichés.</p> |
