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发明名称
HANDLING APPARATUS FOR IC TEST
摘要
申请公布号
JPS6274836(A)
申请公布日期
1987.04.06
申请号
JP19850214501
申请日期
1985.09.30
申请人
TOSHIBA CORP
发明人
KANAZAWA TAKAKI
分类号
H01L21/66;B65G1/00;B65G43/08;B65G59/06
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
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