发明名称 Device for testing the electrical functioning of circuit wirings, especially on printed-circuit boards.
摘要 Auf ein zu prüfendes Verdrahtungsfeld, insbesondere auf eine zu prüfende Leiterplatte (Lp20), wird eine Trägerplatte (Tp20) aufgesetzt, in welche eine Vielzahl von mit Elektroden (E20) versehenen Gasentladungskanälen (Gk20) eingebracht ist, wobei jeweils mindestens zwei ausgewählte Meßstellen eines Verdrahtungsfelds über die zugeordneten Gasentladungskanäle (Gk20) und deren Elektroden (E20) vorzugsweise ionisch kontaktierbar sind. Um die Anzahl der Zuleitungen zu den Elektroden (E20) drastisch zu reduzieren, ist jeder Gasentladungskanal (Gk20) durch eine seiner Elektrode (E20) zugeordnete Elektroden-Sammelleitung (ES20) und durch die steuerbare Beaufschlagung mit einer Gasentladungen einleitenden Strahlung, insbesondere einer ionisierenden Strahlung (iS20, iS21) auswahlbar. Die Beaufschlagung mit der Strahlung (iS20, iS21), durch welche die Zündbedingungen für Gasentladungen geschaffen werden, kann durch Strahlablenkung oder mittels Masken gesteuert werden.
申请公布号 EP0216135(A1) 申请公布日期 1987.04.01
申请号 EP19860111442 申请日期 1986.08.19
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 DOEMENS, GUNTER, DR.
分类号 G01R1/07;G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28;G01R1/073 主分类号 G01R1/07
代理机构 代理人
主权项
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