| 发明名称 |
MEASURING METHOD FOR STATIC CHARACTERISTICS OF FIELD-EFFECT TRANSISTOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS6259874(A) |
申请公布日期 |
1987.03.16 |
| 申请号 |
JP19850198449 |
申请日期 |
1985.09.10 |
| 申请人 |
TOSHIBA CORP |
发明人 |
TATEMATSU MIKIO;KURITA NORIAKI |
| 分类号 |
H01L29/78;G01R31/26;H01L21/66 |
主分类号 |
H01L29/78 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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