| 发明名称 |
METHOD FOR EVALUATING QUALITY OF OXIDE SINGLE CRYSTAL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS6256400(A) |
申请公布日期 |
1987.03.12 |
| 申请号 |
JP19850195639 |
申请日期 |
1985.09.04 |
| 申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
发明人 |
TADA KOJI;TATSUMI MASAMI;NAMIKAWA YASUO |
| 分类号 |
C30B33/00;C30B29/22;C30B29/32;C30B29/34 |
主分类号 |
C30B33/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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