发明名称 PHOTOLUMINESCENCE METHOD OF TESTING DOUBLE HETEROSTRUCTURE WAFERS
摘要
申请公布号 EP0119225(B1) 申请公布日期 1987.03.11
申请号 EP19830902858 申请日期 1983.08.17
申请人 WESTERN ELECTRIC COMPANY, INCORPORATED 发明人 BESOMI, PAUL, RAYMOND;DEGANI, JOSHUA;WILT, DANIEL, PAUL
分类号 G01N21/64;G01R31/26;G01R31/308;H01L21/66;H01S5/00;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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