CHARACTERISTIC MEASURING JIG OF BEAM LEAD SEMICONDUCTOR WAFER,申请号JP19850188846-传众专利搜索

发明名称	CHARACTERISTIC MEASURING JIG OF BEAM LEAD SEMICONDUCTOR WAFER
摘要
申请公布号	JPS6248036(A)	申请公布日期	1987.03.02
申请号	JP19850188846	申请日期	1985.08.28
申请人	NEC CORP	发明人	UGAJIN SHIGERU
分类号	H01L21/66;G01R1/073	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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