发明名称 PROBE TESTING PROCESS
摘要
申请公布号 JPS6239021(A) 申请公布日期 1987.02.20
申请号 JP19850178721 申请日期 1985.08.14
申请人 TOSHIBA CORP;TOSHIBA MICRO COMPUT ENG CORP 发明人 MIYAZAKI TSUTOMU;ETO HISAHIKO;TOZAWA SHIN
分类号 H01L21/66;G01R1/073;G01R31/26 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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