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发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THICKNESS OF HETEROGENEOUS MATERIAL LAYER NONDESTRUCTIVELY
摘要
申请公布号 JPS6235216(A) 申请公布日期 1987.02.16
申请号 JP19850174218 申请日期 1985.08.09
申请人 NAKABACHI NORITOSHI;NIITSUMA HIROAKI;NIPPON PUB ENG:KK 发明人 NAKABACHI NORITOSHI;NIITSUMA HIROAKI;EGUCHI KUNIHIKO;SUGIMURA RYOJI
分类号 G01B17/02 主分类号 G01B17/02
代理机构 代理人
主权项
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