发明名称 用矩形脉冲电流测试晶体管直流参数的仪器
摘要 本发明公开了用矩形脉冲电流测试晶体二极管和三极管的主要直流参数的原理和体现这种原理的实用电路。按此电路制成的样机体积为215×155×75mm<SUP>3</SUP>,重量为1.5kg,交、直流两用,有23个晶体管直流参数测试档位,可测试各种晶体二极管和三极管以及场效应管、单结管的下述直流参数:I<SUB>CBO</SUB>、I<SUB>CEO</SUB>、V<SUB>F</SUB>、V<SUB>B</SUB>、V<SUB>Z</SUB>、BV<SUB>CEO</SUB>、BV<SUB>CBO</SUB>、BV<SUB>EBO</SUB>、h<SUB>FE</SUB>、V<SUB>CES</SUB>、I<SUB>DSS</SUB>、gm、η等,最大电流4A,最高电压2000V,误差小于10%,本仪器还附加一个24档万用表。
申请公布号 CN85106936A 申请公布日期 1987.02.11
申请号 CN85106936 申请日期 1985.09.15
申请人 谭维纲 发明人 谭维纲
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项 1、一种测试晶体管直流参数的方法,其技术特征是采用图1所示矩形脉冲电流测试晶体二极管和三极管的主要直流参数ICEO、ICBO、VF、VCES、hFE。
地址 湖北省武汉市武昌区珞瑜路23号武汉测绘学院电教中心