| 发明名称 |
AUTOMATIC INSPECTION METHOD AND APPARATUS FOR CONTACT PROBE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPS6224155(A) |
申请公布日期 |
1987.02.02 |
| 申请号 |
JP19850163684 |
申请日期 |
1985.07.24 |
| 申请人 |
MITSUBISHI METAL CORP |
发明人 |
MUKOYAMA KINROKU;OKA MASAO |
| 分类号 |
G01R1/06;G01R31/02;G01R31/18 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
