首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 INSPECTING INSTRUMENT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS629276(A) 申请公布日期 1987.01.17
申请号 JP19850149686 申请日期 1985.07.08
申请人 YOKOGAWA ELECTRIC CORP 发明人 ISHIBACHI MUNEO;UOZUMI TOMOHIKO
分类号 G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com