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发明名称 RAYON THICKNESS MEASURING METHOD AND APPARATUS
摘要
申请公布号 PL254126(A1) 申请公布日期 1987.01.12
申请号 PL19850254126 申请日期 1985.06.20
申请人 ZAKLADY WLOKIEN CHEM 发明人 SZMYTKIEWICZ TOMASZ;ALBRECHT KRZYSZTOF
分类号 G01B;(IPC1-7):G01B/ 主分类号 G01B
代理机构 代理人
主权项
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