发明名称 DETECTION OF TWO-DIMENSIONAL POSTURE ANGLE USING MARK PATTERN
摘要
申请公布号 JPS622106(A) 申请公布日期 1987.01.08
申请号 JP19850141381 申请日期 1985.06.27
申请人 AGENCY OF IND SCIENCE & TECHNOL 发明人 TAKANO HIDEHIKO
分类号 G01B11/26;G01C15/00 主分类号 G01B11/26
代理机构 代理人
主权项
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