发明名称 |
半导体器件及其制造 |
摘要 |
选择腐蚀多层结构中位于各层下面的半导体层4的方法,层1的材料与层4相同或相似,腐蚀对层1无显著影响。预蚀层1、4,层5下面出现带凹槽10的阶梯结构,在已预蚀的结构上用r.f.方法淀积SiO<SUB>2</SUB>11,凹槽的SiO<SUB>2</SUB>最薄,且有选择地去除之,在层1仍有SiO<SUB>2</SUB>覆盖时腐蚀层4至要求的宽度。该方法可用于传质埋层异质结构激光器的制造,层1、4是镓铟砷磷,层3、5是铟磷,最后用质量传递工艺以铟磷填充凹槽。层1、5可以为P型、层3为n型,层1为激光器提供一个电接触层。 |
申请公布号 |
CN85104952A |
申请公布日期 |
1987.01.07 |
申请号 |
CN85104952 |
申请日期 |
1985.06.28 |
申请人 |
标准电话电报公共有限公司 |
发明人 |
丹尼尔·塞吉斯马多·奥托·兰纳 |
分类号 |
H01L21/306;H01L21/365;H01L21/02;H01S3/18 |
主分类号 |
H01L21/306 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利代理部 |
代理人 |
陈景峻 |
主权项 |
1、选择腐蚀多层结构第一层(4)的方法,该结构第一层(4)的半导体材料与另外一层(1)的半导体材料相同或类似,上述两层由一层或几层其它半导体材料层(5)隔开,第一层(4)淀积在相邻两个不同半导体材料层(3、5)之间,另外一层(1)构成结构的最外层,方法是,要腐蚀第一层(4)而不要较多地腐蚀另外一层(1),其特点是:对第一层(4)和另外一层(1)均预先进行小量的腐刻,使得在上述两个邻层(5、3)之间的第一层(4)内出现凹槽(10),在预蚀的结构上涂覆抗蚀材料(11),至少使另一层(1)的残余部分被覆盖而凹槽(10)的壁不被覆盖,然后再对第一层4进行一预定量的腐蚀。 |
地址 |
英国伦敦 |