一种对集成电路关闭内部功能的实现方法

摘要

本发明公开了一种对集成电路关闭内部功能的实现方法，其包括以下步骤：A、在集成电路芯片工作模式下向其非易失存储器里的预定单元中，写入一个预先定义的特征值；B、所述集成电路内部相关功能电路采用分级复位，在分级复位的过程中强制逐个验证所述非易失存储器预定单元中是/否是预定的特征值，以打开/关闭对应的功能/模式。本发明方法通过在存储区域内存储的特定特征值，实现在上电复位时的不同的功能的选择性关闭，从而增强了芯片的安全性，并且针对不同情形实现了集成电路的永久选择性设置。

主权项

1、一种对集成电路关闭内部功能的实现方法，其包括以下步骤：A、在集成电路芯片工作模式下向其非易失存储器里的预定单元中，写入一个预先定义的特征值，所述特征值不是非易失存储器测试用数值；B、所述集成电路内部相关功能电路采用分级复位，在分级复位的过程中强制逐个验证所述非易失存储器预定单元中是/否是预定的特征值，以打开/关闭对应的模式；所述分级复位的过程是：B1、在上电复位过程中，检测到所述非易失存储器的预定单元里的数据是第一模式的特征值，置该第一模式为有效；B2、在所述集成电路芯片上电复位结束后，向所述非易失存储器预定单元中写第二模式的特征值；B3、当所述集成电路芯片再次上电复位时，检测到所述非易失存储器预定单元中的第二模式特征值，所述集成电路芯片就工作在第二模式。