PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LE TEST RAPIDE, PAR REFLECTROMETRIE, DANS LES GAMMES V.H.F., DE COMPOSANTS PASSIFS

摘要

LA PRESENTE INVENTION CONCERNE UN PROCEDE ET UN DISPOSITIF DE TEST RAPIDE, DANS LA GAMME V.H.F., DE DIPOLES PASSIFS. LE DISPOSITIF SELON LA PRESENTE INVENTION COMPREND UN GENERATEUR DE SIGNAL ELECTRIQUE DE FREQUENCE VARIABLE DANS LA GAMME V.H.F. 100, UNE LIGNE A CONSTANTES REPARTIES CONNECTEE EN TETE AUDIT GENERATEUR ET EN SORTIE AU DIPOLE A TESTER FORMANT IMPEDANCE TERMINALE, ET DES MOYENS DE DETECTION D'UN SIGNAL LIE A L'ONDE REFLECHIE PAR LE DIPOLE SOUS TEST, LORSQUE LA LIGNE EST ALIMENTEE PAR UNE ONDE INCIDENTE V PERIODIQUE DONT LA FREQUENCE EST MODULEE DANS LA GAMME V.H.F. PENDANT LA DUREE DU TEST, POUR DEFINIR L'EVOLUTION DU COEFFICIENT DE REFLEXION G SUR LA GAMME V.H.F. ET A PARTIR DE CE DERNIER, L'IMPEDANCE DE CHACUNE DE N BRANCHES PARALLELES D'UN RESEAU REPRESENTATIF DU DIPOLE.