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发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS
摘要
申请公布号 EP0108790(B1) 申请公布日期 1986.12.17
申请号 EP19830901875 申请日期 1983.05.02
申请人 MICRO COMPONENT TECHNOLOGY, INC. 发明人 PETRICH, DENNIS M.;AMICK, CHRISTOPHER G.;GRUENENWALD, STANLEY L.
分类号 G01R31/319;G01R31/28;G01R31/30;(IPC1-7):G01R15/12;H05K1/14;G01R31/02 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
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