发明名称 |
Method for mechanical-chemical polishing silicon wafers. |
摘要 |
Die polierten Oberflächen von Siliciumscheiben sind im Anschluß an den Poliervorgang noch vielerlei Einwirkungen unterworfen, die die Oberflächenqualität ungünstig beeinflussen können. Dies wird verhindert, indem erfindungsgemäß beim Polieren der Scheiben der letzte Polierschritt so gestaltet wird, daß sich auf der polierten Scheibenoberfläche ein schützender Siliciumdioxidfilm ausbildet. Der Film stört z. B. bei nachfolgenden Oxidationsprozessen nicht.
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申请公布号 |
EP0204189(A1) |
申请公布日期 |
1986.12.10 |
申请号 |
EP19860106584 |
申请日期 |
1986.05.15 |
申请人 |
WACKER-CHEMITRONIC GESELLSCHAFT FUR ELEKTRONIK-GRUNDSTOFFE MBH |
发明人 |
LAMPERT, INGOLF;JACOB, HERBERT, DR. |
分类号 |
H01L21/304;B24B1/00;C25D11/32;C30B33/00;(IPC1-7):C25D11/32;C30B29/06 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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