发明名称 AUTOMATED REFRACTOMETER
摘要 Un réfractomètre optique permettant de déterminer automatiquement les principaux indices d'un spécimen reçoit un faisceau de radiations incident qui est réfléchi par un premier miroir rotatif (RM1) sur une surface réfléchissante d'un miroir elliptique (EM1), l'axe de rotation de la première surface rotative s'étendant à travers un premier foyer (A) du premier miroir elliptique. Un demi-cylindre (HC) possède un centre de courbure dans un deuxième foyer (C) du premier miroir elliptique et assure un montage permettant la rotation et la translation d'un spécimen autour d'un premier axe Z et le long d'un deuxième et d'un troisième axes (X, Y) respectivement, de sorte qu'une partie du spécimen est située dans le deuxième foyer (C) pour recevoir le faisceau incident réfléchi depuis la première surface rotative. Un deuxième miroir elliptique (EM2) possède un troisième et un quatrième foyers (C, B) et une deuxième surface pour réfléchir le faisceau de radiations incident depuis le deuxième miroir elliptique (EM2) avec un axe de rotation s'étendant à travers le quatrième foyer, le troisième foyer étant sur le premier axe coïncidant avec le deuxième foyer, afin de produire un faisceau réfléchi de sortie. La rotation de la première et de la deuxième surfaces rotatives peut être régulée pour modifier l'angle d'incidence de la radiation et l'angle du faisceau réfléchi de sortie, et pour faire tourner le spécimen autour d'un premier axe (Z) et le translater le long du deuxième et du troisième axes (X, Y).
申请公布号 WO8606834(A1) 申请公布日期 1986.11.20
申请号 WO1986US00963 申请日期 1986.05.05
申请人 ELECTRO-TEC CORPORATION 发明人 BLOSS, F., DONALD
分类号 G01N21/41;G01N15/00;G01N21/43;G01N21/59;(IPC1-7):G01N21/41 主分类号 G01N21/41
代理机构 代理人
主权项
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