Optical tension-measuring process and device.

摘要

Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Spannungsmessung angegeben, bei dem das zu untersuchende Objekt vor der Verformung bzw. Beanspruchung mit einer dünnen, transparenten Schicht versehen wird, welche auf dem Objekt gut haftet und eine Dicke zwischen 3 und 20 µm hat. Nach der Verformung bzw. während der Beanspruchung wird der durch Interferenz der an den Grenzflächen der transparenten Schicht reflektierten und überlagerten Teillichtbündel entstehende wellenlängenabhängige Intensitätsverlauf gemessen und durch einen ausgewertet.