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发明名称 METHOD OF GRADING CMOS INTEGRATED CIRCUITS WITH RESPECT TO RELIABILITY LEVELS
摘要
申请公布号 SU1269061(A1) 申请公布日期 1986.11.07
申请号 SU19853919252 申请日期 1985.06.26
申请人 MO LESOTEKHNICHESKIJ INSTITUT 发明人 DMITRIEV ANDREJ A,SU;MALKOV YAKOV V,SU;PETROV SERGEJ P,SU
分类号 G01R31/303;G01R31/28 主分类号 G01R31/303
代理机构 代理人
主权项
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