| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SIGNAL FREQUENCY OF AT LEAST ONE OF SAMPLES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS61225750(A) |
申请公布日期 |
1986.10.07 |
| 申请号 |
JP19860061946 |
申请日期 |
1986.03.19 |
| 申请人 |
SIEMENS AG |
发明人 |
HANSU DETOREFU BURUUSUTO;YOHAN OTSUTOO |
| 分类号 |
G01N23/225;G01R31/26;G01R31/302;G01R31/305;H01J37/28;H01L21/66 |
主分类号 |
G01N23/225 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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