| 摘要 |
Un champ magnétique est produit au moyen d'un émetteur (10) placé à proximité de la surface (S) d'un produit à contrôler et un récepteur (11) distinct de l'émetteur est placé, par rapport à l'émetteur, d'une part, de manière à être aligné avec l'émetteur dans une direction correspondant à l'orientation générale de défauts à détecter à la surface du produit et, d'autre part, de ne pas être substantiellement influencé par les courants de Foucault engendrés par l'émetteur lorsque la surface du produit est exempte de défaut, de sorte qu'un signal significatif n'est recueilli par le récepteur qu'en cas de déviation des courants de Foucault en sa direction en raison d'une discontinuité (D) à la surface du produit. L'invention s'applique à la détection de défauts de surface de demi-produits métallurgiques, notamment de demi-produits sidérurgiques coulés en continu. |
