| 摘要 |
Un procédé et un dispositif sont utilisés pour mesurer des pièces à usiner, en particulier des pièces à usiner à rotation symétrique. Des sections optiques perpendiculaires à un axe (30) préféré de la pièce à usiner (1) sont formées sur les surfaces photosensibles d'au moins deux convertisseurs optoélectroniques (2, 2'). Un signal de sortie correspondant au diamètre de la pièce à usiner (1) est obtenu dans un organe de soustraction (7) qui calcule la différence entre les signaux de sortie (20, 20') de ces convertisseurs optoélectroniques. Le signal de sortie ainsi obtenu est fourni à une unité de calcul (6), qui reçoit également un signal de sortie correspondant à la position des convertisseurs optoélectroniques (2, 2') produit par un système linéaire de mesure (3). Des pièces à usiner (1) défectueuses peuvent ainsi être éliminées par comparaison avec des valeurs de consigne enregistrées au préalable. |
