发明名称 | 一种相干调制传递函数的测量方法 | ||
摘要 | 一种相干调制传递函数的测量方法,采用光学傅里叶频谱测量法,直接测量强散射屏本身的散斑的频谱强度分布和强散射屏经待测光学成象系统所成象的散斑的频谱强度分布之比值,一次便可测量出待测光学成象系统在各种空间频率下的相干调制传递函数值。本发明既解决了相干调制传递函数的测量问题,且简便易行。 | ||
申请公布号 | CN85102833A | 申请公布日期 | 1986.09.10 |
申请号 | CN85102833 | 申请日期 | 1985.04.01 |
申请人 | 四川大学 | 发明人 | 王植恒;陈泽先;张冠申 |
分类号 | G01M11/00 | 主分类号 | G01M11/00 |
代理机构 | 四川大学专利事务所 | 代理人 | 卿微;陈智伦 |
主权项 | 1、一种调制传递函数的测量方法,其特征在于用平行相干光束照明放在凸透镜前焦平面上的强散射屏,在凸透镜的后焦平面上用频谱探测装置测量强散射屏的空间频谱的强度分布,然后在强散射屏和凸透镜中间放入待测光学成象系统,使强散射屏正好位于待测光学成象系统的物平面上,而凸透镜的前焦平面与待测光学成象系统的象平面重叠,由频谱探测装置测得凸透镜后焦平面上的空间频谱的强度分布,将两个测得的强度分布相除,得到待测光学成象系统在各种空间频率下的相干调制传递函数。 | ||
地址 | 四川省成都市九眼桥 |